冷场发射扫描电子显微镜

　　仪器名称：冷场发射扫描电子显微镜 Cold-Field Emission Scanning Electron Microscope

　　仪器厂商：Hitachi 

　　仪器型号：SU8010 

　　放置地点：生态楼109 

　　技术咨询：李春勇（0731-84619737） 

　　关键配置与技术指标：加速电压：0.1KV-30KV；分辨率：15KV分辨率可达1.0nm；1KV分辨率可达1.3nm；观测倍率：20～8000000倍；可进行二次电子（SE）成像，背散射电子（BSE）成像；配备X射线能谱仪，可进行微区元素成分分析，分析范围Be4~U92。 

　　主要用途： 用于观察样品表面超微结构；进行微区成分分析。 

　　待测样品要求：固体样品，样品需干燥不含水，无磁性、无放射性、无毒性、无挥发性等潜在危害，耐电子束；样品高度＜1.5cm，直径≤5cm；含水生物样品需要脱水干燥等。